|
|||||
|
|
| 用先进技术测量超短脉冲 | |
| 引用本文： | 从征.用先进技术测量超短脉冲[J].激光与光电子学进展,1998,35(3):19-21. |
| 作者姓名： | 从征 |
| 摘 要： | 受光通讯和材料特性表征等一系列潜在应用的推动，超短脉冲源的发展仍是激光发展的一个最活跃领域1]。除实验室中脉宽空前降低的器件外，锁模半导体激光器和二极管泵浦的固体激光器预计也提供众多可实际应用的光源。为高速探测器和超快脉冲表征技术发表的论文虽然比超快激光性能的少得多，但对继续保持研究进展和最终以锁模激光器为基础的系统商品化部署很重要。用于短脉冲探测和表征的技术以及硬件按响应时间可分成两类。对大于15PS的脉宽，固体探测器具有尺寸小和牢固的特点，使它成为光通讯和其它新型设备应用的潜在侯选品。对更短时间… |
| 关 键 词： | 超短脉冲 激光器 测量 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |