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一种具有抗dV/dt噪声能力的600 V HVIC
引用本文:郭俊杰,徐申,常昌远,孙祎轩,叶佳玲. 一种具有抗dV/dt噪声能力的600 V HVIC[J]. 微电子学, 2023, 53(4): 641-646
作者姓名:郭俊杰  徐申  常昌远  孙祎轩  叶佳玲
作者单位:东南大学 微电子学院, 南京 210096
基金项目:江苏省自然科学基金资助项目(BK20201147)
摘    要:设计了一种改进的电平移位电路。该电路采用交叉耦合结构,在不明显增加电路复杂度的情况下,显著提高了高压栅极驱动集成电路(HVIC)的噪声免疫能力。整个驱动器基于0.35μm 600 V BCD工艺设计。仿真结果表明,设计的HVIC可以实现高达125 V/ns的dV/dt噪声免疫能力,并在15 V电源电压下允许VS负电压过冲达到-9.6 V。此外,从理论上分析了改进电平移位电路的本级传输延时。同传统HVIC相比,设计的HVIC整体的传输延时得到了优化,降低到54 ns左右。

关 键 词:电平移位电路  交叉耦合结构  高压栅极驱动集成电路  噪声免疫  传输延时
收稿时间:2022-08-21

A 600 V High Voltage Gate Drive IC with dV/dt Noise Immunity
GUO Junjie,XU Shen,CHANG Changyuan,SUN Yixuan,YE Jialing. A 600 V High Voltage Gate Drive IC with dV/dt Noise Immunity[J]. Microelectronics, 2023, 53(4): 641-646
Authors:GUO Junjie  XU Shen  CHANG Changyuan  SUN Yixuan  YE Jialing
Affiliation:School of Microelectronics, Southeast University, Nanjing 210096, P. R. China
Abstract:
Keywords:
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