| Micro-Raman光谱鉴定碳化硅单晶的多型结构 |
| |
| 引用本文： | 王丽,胡小波,董捷,李娟,姜守振,李现祥,徐现刚,王继扬,蒋民华.Micro-Raman光谱鉴定碳化硅单晶的多型结构[J].功能材料,2004,35(Z1):3400-3404. |
| |
| 作者姓名： | 王丽 胡小波 董捷 李娟 姜守振 李现祥 徐现刚 王继扬 蒋民华 |
| |
| 作者单位： | 山东大学,晶体材料国家重点实验室,山东,济南,250100 |
| |
| 基金项目： | 本项目得到国家863高技术计划(2001AA311080);国家自然科学基金(60025409)的资助 |
| |
| 摘 要： | 利用激光拉曼光谱仪测量了SiC单晶中不同多型的显微Raman光谱.在Raman光谱中,最大强度的FTA模和FTO模应出现在其简约波矢x等于该多型的六角度h处,据此对4H-SiC单晶中的多型进行了鉴定.同时采用高分辨X射线衍射测量了该晶片不同区域的摇摆曲线,将不同多型体的计算衍射角与实验值加以比较,对SiC晶片中的多型进行了标注,所得结论与激光Raman光谱测定结果相一致,说明Raman光谱是一种简单、快速地鉴定多型结构的强有力的工具.实验结果表明,在升华法生长4H-SiC单晶过程中,容易出现寄生6H、15R多型同4H多型的竞争生长,简单分析了寄生多型产生的原因.
|
| 关 键 词： | 显微激光Raman光谱 X射线摇摆曲线 SiC单晶 多型鉴定 |
| 文章编号： | 1001-9731(2004)增刊-3400-05 |
| 修稿时间： | 2004年4月30日 |
Polytypes identification of SiC crystal by micro-raman spectroscopy |
| |
| WANG Li,HU Xiao-bo,DONG Jie,LI Juan,JIANG Shou-zhen,LI Xian-xiang,XU Xian-gang,WANG Ji-yang,JIANG Min-hua.Polytypes identification of SiC crystal by micro-raman spectroscopy[J].Journal of Functional Materials,2004,35(Z1):3400-3404. |
| |
| Authors: | WANG Li HU Xiao-bo DONG Jie LI Juan JIANG Shou-zhen LI Xian-xiang XU Xian-gang WANG Ji-yang JIANG Min-hua |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
|
