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| 薄膜锗靶等离子体参量诊断的实验研究 | |
| 引用本文： | 蔡玉琴,张启仁,杨上金,洪伟,武德勇,淳于书泰,何颖玲.薄膜锗靶等离子体参量诊断的实验研究[J].中国核科技报告,2000(1). |
| 作者姓名： | 蔡玉琴 张启仁 杨上金 洪伟 武德勇 淳于书泰 何颖玲 |
| 作者单位： | 中国工程物理研究院，中国工程物理研究院，中国工程物理研究院，中国工程物理研究院，中国工程物理研究院，中国工程物理研究院，中国工程物理研究院 成都，610003，成都，610003，成都，610003，成都，610003，成都，610003，成都，610003，成都，610003 |
| 摘 要： | 描述了对双脉冲辐照薄膜锗靶形成的等离子体参量诊断的实验研究。使用平晶谱仪和时间分辨 X 射线晶体谱仪诊断等离子体参量,给出了等离子体的电子密度、电子温度及其时间演变过程。实验结果表明:双脉冲打靶比单脉冲打靶电子温度有较大幅度提高。诊断结果为双脉冲驱动薄膜靶高增益 X 射线激光实验选择最佳的实验条件提供了实验依据。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |