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| 纳米材料微观结构的透射电镜和高分辨电镜表征技术 | |
| 引用本文： | 方克明,邹兴,黄浪,王国承,王雪静,邓庚凤.纳米材料微观结构的透射电镜和高分辨电镜表征技术[J].纳米科技,2005,2(3):26-29. |
| 作者姓名： | 方克明 邹兴 黄浪 王国承 王雪静 邓庚凤 |
| 作者单位： | 北京科技大学理化系,北京,100083;北京科技大学理化系,北京,100083;北京科技大学理化系,北京,100083;北京科技大学理化系,北京,100083;北京科技大学理化系,北京,100083;北京科技大学理化系,北京,100083 |
| 摘 要： | 介绍了适用性很广的FKM制样法。应用该技术可以从微米-纳米颗粒、微米-纳米纤维、微米-纳米膜或含有界面的试样中切取可供透射电子显微镜研究的薄膜，对微米-纳米材料的微观结构进行表征，且制样的效率高，薄区大，完整性好。对纳米材料微观结构的透射电子显微镜和高分辨电子显微镜表征具有参考价值。 |
| 关 键 词： | 纳米材料 微观结构 表征 |
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