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基于单片机及FPGA的时统测试系统设计与实现
引用本文:孙振涛.基于单片机及FPGA的时统测试系统设计与实现[J].工业控制计算机,2016(4):147-149.
作者姓名:孙振涛
作者单位:中国船舶重工集团公司江苏自动化研究所
摘    要:针对目前时统设备的广泛应用而缺少专用测试设备的问题,研制出基于单片机及FPGA的时统测试系统。时统测试系统使用AT89C52单片机程序完成控制与通讯功能,使用Cyclone II的EP2C5Q208I8N FPGA完成时统信号的精确产生与测量,实现了对被测时统设备输入功能的测试及输出脉冲频率的精确测量。该测试系统结构小巧、测试通道多,能够灵活方便地对多台时统设备进行功能性能测试。该系统运行准确、稳定、可靠。

关 键 词:FPGA  单片机  时统测试

Testing System for Time Sync Equipment Based on MCU and FPGA
Abstract:
Keywords:
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