基于AFM的振幅曲线研究探针一样品间的相互作用 |
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引用本文: | 王艳霞,李艳宁,傅星,李正光,胡小唐.基于AFM的振幅曲线研究探针一样品间的相互作用[J].仪器仪表学报,2003,24(Z1):216-218. |
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作者姓名: | 王艳霞 李艳宁 傅星 李正光 胡小唐 |
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作者单位: | 1. 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072;青岛科技大学信息控制与工程学院,青岛,266042 2. 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072 3. 青岛热电公司,青岛,266034 |
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基金项目: | 留学回国人员科研启动基金资助项目. |
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摘 要: | 在原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)的拍击工作模式(Tapping Mode)下,探针的振幅受探针-样品间作用力的影响.该作用力与两者的间距密切相关,以探针-样品间作用力的平衡位置为界,将探针-样品间距划分为引力作用区域和斥力作用区域.本文中通过实验得到了探针的振幅随探针-样品间距变化的关系曲线--振幅曲线,详细讨论了振幅曲线与探针-样品间作用力的关系;并通过计算机模拟验证了振幅随探针-样品间距的变化关系.结果表明研究软样品时应该尽可能选取引力作用区域,以避免测量对样品的影响.
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关 键 词: | 振动曲线 探针-样品作用 拍击模式 原子力显微术 |
Examination of Tip-sample Interaction by Amplitude-distance Curve in Tapping Mode Atomic Force Microscopy |
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Abstract: | |
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