| X射线荧光法快速测定硅铝合金中的硅含量 |
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| 引用本文： | 董彦辉,李光平,郑庆瑜. X射线荧光法快速测定硅铝合金中的硅含量[J]. 现代仪器, 2005, 11(6): 21-22 |
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| 作者姓名： | 董彦辉 李光平 郑庆瑜 |
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| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第四十六研究所,天津,300192 |
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| 摘 要： | 本文介绍采用X射线荧光法测定硅铝合金中硅含量的方法及相关条件,并对测量结果精度进行分析。本方法具有样品前期处理简便、干扰因素小,且快速、准确等特点。
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| 关 键 词： | X射线荧光法 硅铝合金 硅 |
The determination of Si in the Al-Si metal by XRFS |
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| Dong Yanhui,Li Guangping,Zheng Qingyu. The determination of Si in the Al-Si metal by XRFS[J]. Modern Instruments, 2005, 11(6): 21-22 |
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| Authors: | Dong Yanhui Li Guangping Zheng Qingyu |
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| Affiliation: | China Electronics Technology Group Corporation No.46th Research Institute, Tianjin 300192 |
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| Abstract: | In this paper,the concentration of Si in the aluminium-silicon is determined by XRFS(X-Ray Fluoresent Spectrum).The method is simple、rapid、accurate and reproducible. |
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| Keywords: | X fluorescent spectrometry Aluminium-silicon Silicon |
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