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一种物联网终端通用测试设备设计
引用本文:邓炳光,禹斯译,闵小芳,周维海.一种物联网终端通用测试设备设计[J].电子器件,2021,44(6):1327-1332.
作者姓名:邓炳光  禹斯译  闵小芳  周维海
作者单位:重庆邮电大学通信与信息工程学院,重庆400065
摘    要:针对传统物联网终端测试设备功能单一、可靠性不足等问题,研制了一种通用测试设备。该设备基于ARM+FPGA+STM32架构进行设计,包括主控卡、输入卡、输出卡及电源卡4种CPCI板卡。测试设备通过不同的数据线缆外接多种物联网终端,可对物联网终端进行数字/模拟信号的采集和激励,并集成常见协议接口,能应用于大部分物联网终端测试项目。该项目已在某物联网测试系统里应用,验证了设备在不同终端测试项目下的通用性和可靠性。

关 键 词:物联网终端  通用测试设备  ARM  FPGA  STM32  协议接口
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