一种物联网终端通用测试设备设计 |
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引用本文: | 邓炳光,禹斯译,闵小芳,周维海.一种物联网终端通用测试设备设计[J].电子器件,2021,44(6):1327-1332. |
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作者姓名: | 邓炳光 禹斯译 闵小芳 周维海 |
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作者单位: | 重庆邮电大学通信与信息工程学院,重庆400065 |
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摘 要: | 针对传统物联网终端测试设备功能单一、可靠性不足等问题,研制了一种通用测试设备。该设备基于ARM+FPGA+STM32架构进行设计,包括主控卡、输入卡、输出卡及电源卡4种CPCI板卡。测试设备通过不同的数据线缆外接多种物联网终端,可对物联网终端进行数字/模拟信号的采集和激励,并集成常见协议接口,能应用于大部分物联网终端测试项目。该项目已在某物联网测试系统里应用,验证了设备在不同终端测试项目下的通用性和可靠性。
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关 键 词: | 物联网终端 通用测试设备 ARM FPGA STM32 协议接口 |
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