新型能量和波长色散流程X射线萤光探头 |
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引用本文: | M. Hietala,E. Kiuru,楼才生.新型能量和波长色散流程X射线萤光探头[J].国外金属矿选矿,1981(9). |
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作者姓名: | M. Hietala E. Kiuru 楼才生 |
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摘 要: | 首批流程X射线萤光分析仪是集中装置,它能够测定泵到分析仪的若干矿浆流。直到最近,放射性同位素激发能量色散分析一直是唯一适合分布过程分析装置的重要方法。在不需要极高的分辩率时,推荐使用正比计数器探头,因为这种探头容易操作。本文介绍两种新型探头。第一种探头是基于放射性同位素源和固态探测器,而第二种探头则基于X射线管和晶体分光计。两种探头均装有微型处理机,但它们也能当作独立单元使用。
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