| 维纳与智能测量的新进展--第七届国际测量技术与智能仪器研讨会侧记 |
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| 引用本文： | 张国雄. 维纳与智能测量的新进展--第七届国际测量技术与智能仪器研讨会侧记[J]. 世界制造技术与装备市场, 2006, 0(3): 37-40 |
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| 作者姓名： | 张国雄 |
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| 作者单位： | 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 |
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| 摘 要： | 第七届国际测量技术与智能仪器研讨会（7th International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments，简称ISMTII2005）于2005年9月5日至9日在英国Huddersfield召开。这一会议由三部分组成。9月5日举行“测量与仪器历史与未来前景报告会（Seminaron History and Future Prospectsin the Field of Measurementand Instrumentation），9月6日至8日是第七届国际测量技术与智能仪器研讨会，
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| 关 键 词： | 智能仪器 测量技术 第七届 International 国际 智能测量 Intelligent Instruments Technology 维纳 |
The latest progress in intelligent measurement--Report from 7th International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments |
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| Zhang GuoXiong. The latest progress in intelligent measurement--Report from 7th International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments[J]. World Manufacturing Engineering & Market, 2006, 0(3): 37-40 |
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| Authors: | Zhang GuoXiong |
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