| 电子元器件使用过程中的可靠性试验 |
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| 引用本文： | 李树生,王东.电子元器件使用过程中的可靠性试验[J].电子质量,2005(11):33-35. |
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| 作者姓名： | 李树生 王东 |
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| 作者单位： | 1. 中国电子科技集团公司第41研究所,青岛,266555
2. 将军烟草集团有限公司济南卷烟厂技术设备处,济南,250100 |
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| 摘 要： | 本文介绍了影响电子元器件可靠性的因素和可靠性试验的原理,主要阐述在电子产品生产过程中,为确保产品的可靠性,如何对电子元器件进行可靠性试验.
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| 关 键 词： | 电子元器件 可靠性试验 使用过程 |
| 文章编号： | 1003-0107（2005）11-0033-03 |
Reliability Experiment about Applied Process of Electronic Component |
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| Li Shu-Sheng,Wang Dong.Reliability Experiment about Applied Process of Electronic Component[J].Electronics Quality,2005(11):33-35. |
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| Authors: | Li Shu-Sheng Wang Dong |
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| Abstract: | This paper simply introduces influencing factors about reliability of electronic componentand principle of reliability experiment,mainly elaborates how to carry out reliability experimentabout applied process of electronic component, in order to ensure reliability of electronic product. |
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| Keywords: | Electronic component Reliability experiment Applied process |
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