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Ar^+注入多孔硅与Ar^+注入硅多孔结构的光致发光研究
引用本文:吕小毅,杨勇兵,贾振红,薛涛. Ar^+注入多孔硅与Ar^+注入硅多孔结构的光致发光研究[J]. 光电子.激光, 2008, 19(12)
作者姓名:吕小毅  杨勇兵  贾振红  薛涛
作者单位:1. 西安交通大学电子与信息工程学院,西安,710049
2. 新疆大学物理科学与技术学院,乌鲁木齐,830046;喀什师范学院物理系,喀什,844000
3. 新疆大学信息科学与工程学院,新疆,乌鲁木齐,830046
4. 新疆大学物理科学与技术学院,乌鲁木齐,830046
基金项目:教育部跨世纪优秀人才培养计划 , 新疆维吾尔自治区高技术研究与发展计划  
摘    要:研究了中等能量(30 key)Ar+注入多孔硅和中等能量(30 key)Ar+先注入单晶硅后再进行电化学腐蚀成的多孔结构的光致发光特性.研究结果表明:中等能量(30 key)Ar+注入多孔硅后,多孔硅原有的发光峰消失,主要是Ar+对多孔硅表面氧的剥离作用.使得与氧相关发光的结构消失,多孔硅不再发光;中等能量(30 kev)Ar+先注入单晶硅后冉电化学腐蚀成的多孔结构中,通常多孔硅原有的580 nIn附近发光峰强度随注入Ar+剂量的增加而增强,并有红移;同时在谱峰处于470 nm附近的微弱发光峰不因注入Ar+而明显变化.

关 键 词:离子注入  多孔硅  光致发光

Study of photoluminescences of the Ar+ implanted porous silicon and the porous structure of Ar+-implanted silicon
LV Xiao-yi,YANG Yong-bing,JIA Zhen-hong,XUE Tao. Study of photoluminescences of the Ar+ implanted porous silicon and the porous structure of Ar+-implanted silicon[J]. Journal of Optoelectronics·laser, 2008, 19(12)
Authors:LV Xiao-yi  YANG Yong-bing  JIA Zhen-hong  XUE Tao
Affiliation:LV Xiao-yi,YANG Yong-bing,JIA Zhen-hong**,XUE Tao
Abstract:We have mesured photoluminescences of the Ar+-implanted porous silicon and the porous structure of Ar+-implanted silicon which is prepared by implanting Ar+ ions into single crystal silicon,conventional anodized oxidation at an energy of middle-energy(30 keV).The results show that the PL intensity of Ar+-implanted porous silicon is reduced,and the PL intensity of porous structure of Ar+-implanted silicon at 580 nm is enhanced.Meanwhile,the emissin peaks located around at 470 nm almost no changed.
Keywords:ion implantation  porous silicon  photoluminescence  
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