GE传感与检测科技第十七届世界无损检测大会上展示创新技术

2008年10月26日在上海召开的第十七届世界无损检测大会（WCNDT）上，GE传感与检测科技展出了其在无损检测（NDT）解决方案领域的最新技术。GE也是此次大会的主赞助商。本次展览中展出的特别引人注目的一系列GE产品包括：第一台真正意义上的手持式工业视频内窥镜XL Go、CRx Flex计算机射线成像扫描仪（特别为NDT领域开发）、Phasec3系列便携式涡流探伤仪以及全新的Phasor系列便携式相控阵探伤仪等。