| FPGA测试中故障屏蔽现象的解决方法 |
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| 引用本文： | 李雪莲,赵建新.FPGA测试中故障屏蔽现象的解决方法[J].电脑开发与应用,2007,20(10):39-41. |
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| 作者姓名： | 李雪莲 赵建新 |
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| 作者单位： | 山西大学,太原,030006;北方自动控制技术研究所,太原,030006 |
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| 摘 要： | 以Xilinx公司FPGA的理论结构为结构模型,提出了FPGA测试中的故障屏蔽现象,并给出该现象的产生原因和判断条件,在此基础上进一步提出相应的解决办法和建议,避免或减少了故障屏蔽现象的出现,提高了测试FPGA的故障覆盖率。
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| 关 键 词： | FPGA测试 测试方法 故障屏蔽 |
| 文章编号： | 1003-5850（2007）10-0039-03 |
| 收稿时间： | 2007-03-26 |
| 修稿时间： | 2007-08-18 |
Masking of Faults in the Testing of FPGA |
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| Li Xuelian??.Masking of Faults in the Testing of FPGA[J].Computer Development & Applications,2007,20(10):39-41. |
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| Authors: | Li Xuelian?? |
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| Abstract: | The Field Programmable Gate Arrays(FPGAs)are widely used in hardware implementation of many designed circuits.To detect the faults of FPGAs is very important,This paper discusses the problem which we called it the masking of faults.We focus on finding when and where it will appear,and give the methods and suggestions to avoid or reduce its appearing,thus the fault coverage is improved. |
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| Keywords: | FPGA testing test method masking of faults |
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