| 基于IEEE1149.4的模拟集成电路性能测试技术研究 |
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| 引用本文： | 葛勇,薛冰.基于IEEE1149.4的模拟集成电路性能测试技术研究[J].计算机测量与控制,2014(1). |
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| 作者姓名： | 葛勇 薛冰 |
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| 作者单位： | 武警石家庄士官学校,石家庄,050061 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金项目金(51207167)。 |
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| 摘 要： | 针对模拟集成电路内建自测试困难和故障诊断约束条件复杂的问题,设计了基于IEEE1149.4边界扫描标准的模拟集成电路性能测试系统;该方案扩展了标准中的模拟边界扫描模块和测试总线电路,并由控制器内部向被测电路施加激励,通过充分利用电路系统中已有数模混合资源,在添加极少的电路元件的基础上,实现了基于FPGA的模拟集成电路性能测试系统;实验选取集成滤波芯片MAX292被测电路测试,其频率特性的测试结果误差均小于5%,表明了该测试方案的正确性、系统测试的有效性和通用性。
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| 关 键 词： | 模拟集成电路 可测性设计 功能测试 IEEE. |
Analog Integrated Circuit Performance Testing Technology Based on IEEE1149.4 |
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| Ge Yong,Xue Bing.Analog Integrated Circuit Performance Testing Technology Based on IEEE1149.4[J].Computer Measurement & Control,2014(1). |
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| Authors: | Ge Yong Xue Bing |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Analog integrated circuit design for testability Function test IEEE1149 4 |
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