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基于介观压阻效应的高g值加速度计设计
引用本文:陈尚,薛晨阳,张文栋,张斌珍,王建,范波. 基于介观压阻效应的高g值加速度计设计[J]. 传感技术学报, 2008, 21(3): 446-449
作者姓名:陈尚  薛晨阳  张文栋  张斌珍  王建  范波
作者单位:中北大学电子测试技术国家重点实验室,太原,山西,030051;中北大学电子测试技术国家重点实验室,太原,山西,030051;中北大学电子测试技术国家重点实验室,太原,山西,030051;中北大学电子测试技术国家重点实验室,太原,山西,030051;中北大学电子测试技术国家重点实验室,太原,山西,030051;中北大学电子测试技术国家重点实验室,太原,山西,030051
基金项目:国家自然科学基金资助项目(50405025,50535030)
摘    要:依据介观压阻效应原理,设计出一种以超晶格量子阱薄膜为敏感单元的高g值纳机电加速度计,期望利用超晶格量子阱薄膜的高灵敏特性,提高加速度计的灵敏度。结合GaAs基表面微机械加工工艺和控制孔技术完成了加速度计的加工。采用马歇特冲击的方法完成了加速度计的测试,并利用冲击响应谱分析了微加速度计在有外部冲击情况下的响应,研究结果表明:依据介观压阻效应原理和MEMS技术制作高g值纳机电加速度计具有可行性,从测试结果可以看出该微加速度计不但冲击响应信号与标准加速度计所测信号很接近,而且它们的响应一致性较好。

关 键 词:高g值加速度计  介观压阻效应  量子阱薄膜  GaAs微结构
文章编号:1004-1699(2008)03-0446-04
修稿时间:2007-09-30

Design of High g Accelerometer Based on Meso-piezoresistance Effect
CHEN Shang,XUE Chen-Yang,ZHANG Wen-Dong,ZHANG Bin-Zhen,WANG Jian and FAN Bo. Design of High g Accelerometer Based on Meso-piezoresistance Effect[J]. Journal of Transduction Technology, 2008, 21(3): 446-449
Authors:CHEN Shang  XUE Chen-Yang  ZHANG Wen-Dong  ZHANG Bin-Zhen  WANG Jian  FAN Bo
Affiliation:National Key Laboratory For Electronic Measurement Technology,North University of China
Abstract:According to the theory of Meso-piezoresistance effect,a high g accelerometer is designed with the sensitive unit of thin film of quantum well.It is desirable that the application of thin film of quantum well may improve the sensitivity of accelerometer.The micro-accelerometer is processed by GaAs-based surface micromachining and control hole technology.The measurement of the structure is completed by means of shocking hammer,and the results are analyzed by the shock response spectrum.The experiment results show that fabricating high g accelerometer based on theory of Meso-piezoresistance effect and MEMS technology is feasible and the results of the designed accelerometer are well agreement with the standard accelerometer.
Keywords:high g accelerometer  meso-piezoresistance effect  thin film of quantum well  GaAs microstructure
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