X 射线无损探伤在高频大功率器件研制中的应用 |
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引用本文: | 丛开琪,张秦生.X 射线无损探伤在高频大功率器件研制中的应用[J].微纳电子技术,1981(3). |
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作者姓名: | 丛开琪 张秦生 |
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作者单位: | 红星机械厂,1413所 |
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摘 要: | 本文一般地介绍了 x 射线无损探伤的原理和方法。较详细地讨论了它在高频大功率晶体管研制中的应用。通过实验说明了,在大功率器件的管壳结构设计及工艺质量、管芯片烧结等方面,x 射线无损探伤是一种科学的简单的分析和检查方法,也是管壳制造工艺质量筛选或抽验的方法之
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