| 槽缝型缺陷参考平面对高速信号的影响研究 |
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| 引用本文： | 杨海峰,周 睿,李 梅. 槽缝型缺陷参考平面对高速信号的影响研究[J]. 半导体光电, 2013, 34(3): 510-515,520 |
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| 作者姓名： | 杨海峰 周 睿 李 梅 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院光电技术研究所,成都610209;中国科学院自适应光学重点实验室,成都610209;中国科学院大学,北京100049
2. 中国科学院光电技术研究所,成都610209;中国科学院自适应光学重点实验室,成都610209 |
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| 摘 要： | 为研究槽缝型缺陷参考平面对高速信号的影响,主要基于场路混合仿真,使用三维全波方法提取槽缝缺陷参考平面参数,并结合电路仿真,分别对单端微带线与耦合微带线跨越不连续参考平面的影响进行分析,讨论了这些影响是如何作用于高速数字系统的时序与噪声,并引入眼图予以说明。仿真结果表明开槽长度与宽度都会增大信号回路电感,信号上升沿时间会随着返回路径的增加而退化,从而引起高速数字系统时序抖动,耦合微带线间的串扰随返回路径增加而急剧增加,在抖动与噪声的共同作用下,会对系统数据接收到的信号产生破坏性作用,在高速PCB设计中应遵从使返回路径最小的原则,避免共同的信号返回路径是关键。由此总结出降低不完整参考平面高速互连线间耦合及串扰的设计规则。
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| 关 键 词： | 缺陷参考平面 信号完整性 耦合噪声 返回路径 高速PCB |
| 收稿时间： | 2013-01-11 |
Impacts of Slotted Defect Reference Plane on High Speed Signal Propagation |
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| YANG Haifeng,ZHOU Rui,LI Mei. Impacts of Slotted Defect Reference Plane on High Speed Signal Propagation[J]. Semiconductor Optoelectronics, 2013, 34(3): 510-515,520 |
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| Authors: | YANG Haifeng ZHOU Rui LI Mei |
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| Affiliation: | 1. Institute of Optics and Electronics; 2. The Key Lab. on Adaptive Optics, Chinese Academy of Sciences, Chengdu 610209, CHN; 3. University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100039, CHN;1. Institute of Optics and Electronics; 2. The Key Lab. on Adaptive Optics, Chinese Academy of Sciences, Chengdu 610209, CHN; 3. University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100039, CHN;1. Institute of Optics and Electronics; 2. The Key Lab. on Adaptive Optics, Chinese Academy of Sciences, Chengdu 610209, CHN; 3. University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100039, CHN |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | defect reference plane signal integrity coupling noise return path high-speed PCB |
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