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| 文章编号:1007-0249(2012)05-0091-07 | |
| 作者姓名： | 徐辉 梁华国 黄正峰 汪静 李志杰 李扬 严鲁明 |
| 作者单位： | 1. 合肥工业大学 计算机与信息学院,安徽合肥 230009 2. 安徽理工大学 计算机科学与工程学院,安徽 淮南 232001 3. 合肥工业大学 电子科学与应用物理学院,安徽 合肥 230009 |
| 摘 要： | 负偏置温度不稳定性引起的晶体管老化已经成为影响集成电路可靠性的重要因素.高扇入多米诺或门是高性能集成电路中常用的动态电路,而负偏置温度不稳定性降低了多米诺或门的噪声容限并增大了其传输时延.本文提出了保持器和反相器均带有补偿晶体管的多米诺或门结构,通过开启补偿电路,使电路在老化以后仍然能够保持其抗干扰能力和传输延时,有效的延长了多米诺电路的使用寿命. |
| 关 键 词： | 多米诺电路 保持器 负偏置温度不稳定性 老化 补偿 |
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