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| 接口电路LN4993失效机理分析 | |
| 作者姓名： | 樊晓团 |
| 作者单位： | 航天工业总公司半导体器件失效分析中心!临潼710600 |
| 摘 要： | 通过对接口电路ＬＮ４９９３几次现场失效及厂家筛选中失效电路的分析，并做了ＥＳＤ试验模拟试验，总结出ＬＮ４９９３几种失效模式，探讨其失效机理，发现这种ＭＮＯＳ电路ＥＳＤ损伤阈值为１５００Ｖ，电路失效多数是过电应力或静电损伤造成。 |
| 关 键 词： | 接口电路 LN4993 失效机理 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
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