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用于MEMS的硅湿法深槽刻蚀技术研究
引用本文:张正元,徐世六,刘玉奎,杨国渝,税国华. 用于MEMS的硅湿法深槽刻蚀技术研究[J]. 微电子学, 2004, 34(5): 519-521
作者姓名:张正元  徐世六  刘玉奎  杨国渝  税国华
作者单位:模拟集成电路国家重点实验室;中国电子科技集团公司,第二十四研究所,重庆,400060
基金项目:国家"863"计划"MEMS重大专项B类项目"(2003AA404-02)资助。
摘    要:针对用于MEMS的硅湿法深槽刻蚀技术,对KOH腐蚀液的配方、掩蔽技术等关键技术进行了研究,获得了优化的KOH腐蚀条件;利用该技术,成功地刻蚀出深度高达315μm、保护区域完好的深槽。为硅基MEMS体加工获得微机械结构提供了一个好方法。

关 键 词:湿法腐蚀 深槽刻蚀 掩蔽 MEMS 微机械结构
文章编号:1004-3365(2004)05-0519-03

An Investigation into Wet Etching of Si-Trench for MEMS
ZHANG Zheng-yuan,XU Shi-liu,LIU Yu-kui,YANG Guo-Yu,SHUI Guo-hua. An Investigation into Wet Etching of Si-Trench for MEMS[J]. Microelectronics, 2004, 34(5): 519-521
Authors:ZHANG Zheng-yuan  XU Shi-liu  LIU Yu-kui  YANG Guo-Yu  SHUI Guo-hua
Abstract:
Keywords:Wet etching  Trench etching  Masking  MEMS  Micromechanic structure
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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