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| 金属玻璃(Fe_(0.6)Ni_(0.4))_(82)Si_8B_(10)结构弛豫和晶化过程的正电子寿命研究 | |
| 作者姓名： | 唐忠勋 田德诚 王少阶 |
| 作者单位： | 武汉大学(唐忠勋，田德诚)，武汉大学(王少阶) |
| 摘 要： | 我们对金属玻璃(Fe_(0.6)Ni_(0.4))Si_8B_(10)在等温退火过程中的正电子寿命进行了测量(结果如图),退火温度为425℃。图中所示的正电子寿命值是单分量拟合的结果。为便于讨论,我们在图中还示出了同样样品的ΔS-tα曲线,ΔS是相对于Cu的热电势,X射线相分析证明了热电势显著变化的阶段与样品析出新的晶化物相对应。与热电势测量的结果相比较,整个寿命随退火时间的变化分为两大部分(以d点为界):结构弛豫部分和晶化部分。 |
| 关 键 词： | 正电子湮没 金属玻璃 |
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