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基于小波分析和虚拟仪器技术的1/f噪声研究
引用本文:包军林, 庄奕琪, 杜磊, 李伟华, 马仲发, 万长兴,. 基于小波分析和虚拟仪器技术的1/f噪声研究[J]. 电子器件, 2006, 29(2): 369-372
作者姓名:包军林   庄奕琪   杜磊   李伟华   马仲发   万长兴  
作者单位:宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071
基金项目:中国科学院资助项目;国防预研基金;国防重点实验室基金
摘    要:传统基于傅立叶分析和频谱分析仪的微弱信号检测方法无法对1/f噪声进行实时、高速、精确的测量与分析。本文在以虚拟仪器为平台。内嵌小波分析的低频噪声检测系统基础上对1/f噪声进行了实验和理论研究。实验结果表明,该系统能够检测到的1/f噪声幅值比传统的测试方法低2个数量,以小波理论构建的两个参量更深入细微地表征了1/f噪声特性:模极大值分布能够鉴别不同类型的1/f噪声产生机构,相似系数可描述应力对器件1/f噪声的影响。

关 键 词:小波分析  虚拟仪器  1/f噪声  模极大值  相似系数
文章编号:1005-9490(2006)02-0369-04
收稿时间:2005-07-18
修稿时间:2005-07-18

Study of 1/f Noise by Means of Wavelet Analysis and Virtual Instrument Technology
BAO Jun-lin,ZhUANG Yi-qi,DU Lei,LI Wei-hu,MA Zhong-f,WAN Chang-xing. Study of 1/f Noise by Means of Wavelet Analysis and Virtual Instrument Technology[J]. Journal of Electron Devices, 2006, 29(2): 369-372
Authors:BAO Jun-lin  ZhUANG Yi-qi  DU Lei  LI Wei-hu  MA Zhong-f  WAN Chang-xing
Abstract:As a traditional method, the system based on Fourier analysis and frequency spectrum analyzer can not be used to test 1/f noise timely, fast and accurately.A testing and analyzing system based on wavelet analysis and virtual instrument is set up, by which 1/f noise is studied in theory and experiment. Experimental results demonstrate that this system can be used to test 1/f noise which is lower two scale than what can be tested by a traditional system. Two parameters are presented based on wavelet theory and are well used to characterize 1/f noise: wavelet maxima can be used to probe differect generation mechanisms of 1/f noise and similarity coefficient to picture effects of stress on 1/f noise
Keywords:wavelet analysis    virtual instrument    1/f noise    wavelet maxima    similarity coefficient
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