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Schichtdickenmessung nach dem Röntgenfluoreszenzprinzip |
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| Authors: | Bernhard Mengelkamp |
| Abstract: | Kontinuierliche und berührungslose Dickenmessung von metallischen Schichten auf Eisen nach dem Röntgenfluoreszenzprinzip. Optimale Meßbereiche bei Curium 244 als Anregestrahler. Nachweisgrenzen und statistische Auflösung mit Bereichsangabe der wichtigsten, im wesentlichen von außen einwirkenden Einflußgrößen. |
| Keywords: | |