| 开放式电阻抗成像中数字相敏检波器设计 |
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| 引用本文： | 刘斌,何为,何传红.开放式电阻抗成像中数字相敏检波器设计[J].微计算机信息,2010(11). |
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| 作者姓名： | 刘斌 何为 何传红 |
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| 作者单位： | 重庆大学电气工程学院输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室; |
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| 基金项目： | 中俄国际合作项目;基金申请人:何为;项目名称:电阻抗成像关键技术及装置研究;基金颁发部门:科技部(IS-CP2007DFR30080) |
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| 摘 要： | 开放式电阻抗成像技术对测量系统的精度要求很高,为此研制了基于FPGA的数字相敏检波器(DPSD)以用于电阻抗成像的数据测量。通过分析DPSD的信号采集与计算原理,给出了关键参数的计算,基于DDS技术的ADC时钟设计方法。同时设计了高速多通道ADC转换电路,低抖动性能的ADC时钟电路、FPGA实现实时数字相敏检波的计算方法,提高了系统的信噪比。经实验测试表明,在1KHz~1MHz正弦信号注入频率的条件下,系统的信噪比最高可达104dB,精度高,稳定度好。
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| 关 键 词： | 开放式电阻抗成像 数字相敏检波(DPSD) |
Digital Phase-Sensitive Detector Design for Open-Electrical Impedance Tomography |
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| LIU Bin HE Wei HE Chuan-hong.Digital Phase-Sensitive Detector Design for Open-Electrical Impedance Tomography[J].Control & Automation,2010(11). |
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| Authors: | LIU Bin HE Wei HE Chuan-hong |
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| Affiliation: | LIU Bin HE Wei HE Chuan-hong(Key Laboratory of High Voltage Engineering , ElectricalNew Technology,Ministry of Education,Electrical Engineering College of Chongqing University,Chongqing 400030,China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Open-Electrical Impedance Tomography(OEIT) Digital Phase-sensitive Detector(DPSD) |
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