| 内建自测试相移器设计算法的优化 |
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| 引用本文： | 吴玺,刘军,刘正琼. 内建自测试相移器设计算法的优化[J]. 电子技术应用, 2007, 33(6): 31-33 |
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| 作者姓名： | 吴玺 刘军 刘正琼 |
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| 作者单位： | 合肥工业大学,计算机与信息学院,安徽,合肥,230009;合肥工业大学,计算机与信息学院,安徽,合肥,230009;合肥工业大学,计算机与信息学院,安徽,合肥,230009 |
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| 摘 要： | 在原相移器设计算法的基础上,通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移器设计算法。实验结果表明,此算法不仅克服了原算法设计的相移器造成LFSR扇出过大的缺点,而且提高了伪随机测试故障的覆盖率。
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| 关 键 词： | 伪随机测试 混合模式测试 相移器 线性反馈移位寄存器 故障覆盖率 |
| 修稿时间： | 2006-12-27 |
The improvement of phase shifter design algorithm for BIST |
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| WU Xi,LIU Jun,LIU Zheng Qiong. The improvement of phase shifter design algorithm for BIST[J]. Application of Electronic Technique, 2007, 33(6): 31-33 |
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| Authors: | WU Xi LIU Jun LIU Zheng Qiong |
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