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| 边界扫描与电路板测试技术 | |
| 作者姓名： | 方葛丰 布乃红 宋斌 邹芳宁 |
| 作者单位： | 1. 中国电子科技集团公司第四十一所 2. 电子测试技术国家重点实验室 |
| 摘 要： | 本文论述了边界扫描技术的基本原理和边界扫描在电路板测试及在FPGA、DSP器件中的应用，介绍了为提高电路板的可测试性而采用边界扫描技术进行设计时应注意的一些基本要点。 |
| 关 键 词： | 边界扫描 电路板 测试 集成电路 JTAG 可测试性设计 |
| 修稿时间： | 2002-12-19 |
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