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| 珠状热敏电阻的稳定性 | |
| 引用本文： | 王焕鑫,刘素云.珠状热敏电阻的稳定性[J].传感器与微系统,1987(Z1). |
| 作者姓名： | 王焕鑫 刘素云 |
| 作者单位： | 北京玻璃研究所 (王焕鑫)，北京玻璃研究所(刘素云) |
| 摘 要： | <正> 对珠状玻璃杆密封测温型(MF51型)热敏电阻,分两组进行了稳定性试验。第一组元件进行一周时间内的短期复现性的高精度测定,第二组元件考查了它们在长到五年四个月内室温贮存条件下阻值的漂移。测定结果表明,其短期和长期稳定性可与国外同类产品比美,足以在中温范围内作精密温度传感元件使用。 受试的第一组热敏电阻16支全由北京玻璃所生产。测试在国家计量院热工处进行。测 |
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