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杂志ISSN号
Mo/Si多层膜界面离子束处理及TEM观察
作者姓名:
薛钰芝 Schla.
R
作者单位:
大连铁道学院
摘 要:
Mo/Si多层膜界面离子束处理及TEM观察薛钰芝R.Schlatmann,林纪宁A.Keppel,J.Verhoeven(大连铁道学院,大连116022)(荷兰FOM原子分子物理研究所)软X射线多层膜(MultilayersforSoftX-rayO...
关 键 词:
薄膜 多层膜 钼 硅 界面 离子束处理 TEM
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