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基于DSP的行波故障测距方法的研究
引用本文:向铁元,胡海安,吴红青. 基于DSP的行波故障测距方法的研究[J]. 武汉大学学报(工学版), 2002, 35(4): 72-74,86
作者姓名:向铁元  胡海安  吴红青
作者单位:武汉大学电气工程学院,湖北,武汉,430072
摘    要:分析了实际可行的测距方法 ,介绍了测距系统的工作原理及部分硬件实现 .采用美国TI公司生产的TMS32 0C6 2 11数字信号处理芯片为核心进行硬件设计 ,利用它的强大接口能力和快速运算能力 ,实现数据的高速采集和存储以及测距计算 ,以更好地满足行波故障测距的精度要求 .

关 键 词:行波  故障测距  数字信号处理芯片
文章编号:1006-155X(2002)04-072-03

A study of measuring fault location by traveling wave base on DSP
XIANG Tie_yuan,HU Hai_an,WU Hong_qing. A study of measuring fault location by traveling wave base on DSP[J]. Engineering Journal of Wuhan University, 2002, 35(4): 72-74,86
Authors:XIANG Tie_yuan  HU Hai_an  WU Hong_qing
Abstract:The theory and feasible ways of measuring fault location are described. Then how the measuring system works and how to realized it by hardware are expounded too. Finally, a new type of DSPs-TMS320c6211 made in Texas Instrument Incorporated is introduced. The fault location can be accurately measured by the DSP chip's special capability of interface and operation.
Keywords:wavelet  fault location  digital signal processing chip
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