自动控制晶体直径的采样调节系统研究 |
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引用本文: | 周德卿,朱学林,陆忠仪.自动控制晶体直径的采样调节系统研究[J].压电与声光,1980(3). |
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作者姓名: | 周德卿 朱学林 陆忠仪 |
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作者单位: | 5308厂科研室
(周德卿,朱学林),5308厂科研室(陆忠仪) |
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摘 要: | 在直拉法晶体生长中,通过对直径控制数学模型及热交换平衡机理的研究,本文提出了一种新型的自动控径生长晶体系统——采样串接自动调节系统.该系统利用电子称重技术,测取晶体质量生长速率作为主控信号,以炉膛温度作为付控信号,采取断续调节方式,逐步校正直径偏差.该系统能有效地克服晶体直径对加热功率的响应存在较大纯滞后和较长的热时间常数,在封闭了观察孔的电阻加热法单晶炉中,成功地实现了LN晶体从引晶开始直到生长结束的自动控径生长.
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