| 基于量子点荧光淬灭技术的痕量Cu2+检测传感器研究 |
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| 引用本文： | 郑守国,李淼,张健,胡泽林. 基于量子点荧光淬灭技术的痕量Cu2+检测传感器研究[J]. 激光杂志, 2013, 34(1): 39-40 |
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| 作者姓名： | 郑守国 李淼 张健 胡泽林 |
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| 作者单位： | 1. 中科院安徽光学与精密机械研究所,合肥231500;中科院合肥智能机械研究所,合肥331500
2. 中科院合肥智能机械研究所,合肥,331500 |
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| 基金项目： | 国家科技支撑项目(2012BAJ24B02) |
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| 摘 要： | 本文设计了一种可用于现场检测的痕量Cu2+传感器,运用自行研制的光学感知与信号处理模块实现痕量Cu2+的快速检测,达到了检测仪器的低成本、小型化的目的.实验结果表明,在Cu2+浓度50-1000nmol/L范围内传感器检测结果具有较好的线性关系,拟合后的直线方程为Y=0.11869* X+ 14.47268,线性度为0.99358,标准方差为4.63099,传感器响应时间为50秒,检测的可重复性较好,该传感器可以满足痕量Cu2+现场检测的需求.
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| 关 键 词： | CdTe量子点 重金属检测 荧光淬灭 光化学传感器 |
Research of trace Cu2+ detection sensor based on the quantum dot fluorescence quenching |
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| ZHENG Sou-guo , LI Miao , ZHANG Jian , HU Ze-lin. Research of trace Cu2+ detection sensor based on the quantum dot fluorescence quenching[J]. Laser Journal, 2013, 34(1): 39-40 |
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| Authors: | ZHENG Sou-guo LI Miao ZHANG Jian HU Ze-lin |
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| Affiliation: | 1.Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics,Chinese Academy of Sciences,Hefei 230031,China;2.Institute of Intelligent Machines,Chinese Academy of Sciences,Hefei 230031,Cina |
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