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在SixGe1-xC0.02衬底上直接生长石墨烯
引用本文:魏胜,彭猛,李民权,罗军. 在SixGe1-xC0.02衬底上直接生长石墨烯[J]. 半导体技术, 2015, 40(7). DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2015.07.011
作者姓名:魏胜  彭猛  李民权  罗军
作者单位:安徽大学 智能计算与信号处理重点实验室,合肥230039;中国科学院 微电子研究所 微电子器件与集成技术重点实验室,北京100029;中国科学院 微电子研究所 微电子器件与集成技术重点实验室,北京,100029
基金项目:国家自然科学基金资助项目
摘    要:基于锗衬底在石墨烯生长方面的自限制生长和表面催化特性,以甲烷(CH4)和氢气(H2)为前驱体,采用化学气相沉积(CVD)法分别在锗硅碳(SixGe1-xC0.02)(x=0.15,0.25,0.73)衬底和外延锗上直接生长石墨烯.研究了不同Si组分、H2与CH4体积流量比和生长温度对石墨烯质量的影响.利用光学显微镜(OM)、扫描电子显微镜(SEM)以及喇曼光谱对衬底和生长的石墨烯进行了表征分析.喇曼光谱结果表明,Si0.5Ge0.85C0.02衬底在750℃下可以生长出石墨烯,调节气体H2与CH4的体积流量比为50∶0.5时,生长出的石墨烯是双层的.OM和SEM结果表明,锗硅碳衬底具有比锗更好的热稳定性,高温下不会升华.

关 键 词:锗硅碳(SixGe1-xC0.02)  化学气相沉积(CVD)  外延Ge  石墨烯  热稳定性

Direct Growth of Graphene on SixGe1-xC0.02 Substrate
Abstract:
Keywords:SixGe1-xC0.02  chemical vapor deposition (CVD)  epitaxial germanium  graphene  thermal stability
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