| 海洋环境下晶体管的现场贮存可靠性研究 |
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| 引用本文： | 袁芳,谢雪松,张小玲,王改丽,陈君,哈悦,李嘉楠. 海洋环境下晶体管的现场贮存可靠性研究[J]. 半导体技术, 2015, 40(10): 783-788. DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2015.10.011 |
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| 作者姓名： | 袁芳 谢雪松 张小玲 王改丽 陈君 哈悦 李嘉楠 |
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| 作者单位： | 北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京,100124;海军701工厂,北京,100015 |
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| 基金项目： | 十二五总装预研资助项目 |
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| 摘 要： | 介绍了我国海洋环境的特点及其对双极型晶体管特性的影响.基于典型近海仓库贮存环境,以具有代表性的、用量较大的中小功率晶体管为研究对象,具体分析了近海仓库贮存30～40年的双极型晶体管的性能退化情况和失效模式.研究经过了13个环节的筛选检测,统计并分析了晶体管失效情况,并以失效数目最多的筛选环节中失效的晶体管为例,进行了电学参数测试与开帽检查.研究结果表明,击穿电压、反向漏电流与电流增益是相对较敏感的失效参数.
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| 关 键 词： | 海洋环境 贮存试验 晶体管 可靠性 失效参数 |
Research on the Field Storage Reliability of Transistors in the Marine Environment |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | marine environment storage test transistor reliability failure parameter |
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