| 锁相环敏感模块的单粒子效应与设计加固 |
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| 引用本文： | 鲍进华,李博,曾传滨,高林春,毕津顺,刘海南,罗家俊. 锁相环敏感模块的单粒子效应与设计加固[J]. 半导体技术, 2015, 40(7): 547-553. DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2015.07.014 |
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| 作者姓名： | 鲍进华 李博 曾传滨 高林春 毕津顺 刘海南 罗家俊 |
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| 作者单位： | 中国科学院微电子研究所,北京,100029;中国科学院微电子研究所,北京,100029;中国科学院微电子研究所,北京,100029;中国科学院微电子研究所,北京,100029;中国科学院微电子研究所,北京,100029;中国科学院微电子研究所,北京,100029;中国科学院微电子研究所,北京,100029 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 |
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| 摘 要： | 应用于航天工程的锁相环(PLL)电路遭受太空高能粒子轰击时会发生单粒子效应(SEE),引起电路失锁,对系统造成灾难性影响.分析了鉴频鉴相器(PFD)和分频器(DIV)模块的单粒子效应导致失锁的机理,运用改进的双互锁结构(DICE)的锁存器和冗余触发器电路分别对其进行设计加固(RHBD),基于0.35μm CMOS工艺设计了加固的锁相环电路.仿真结果表明,加固PLL可以对输入20～40 MHz的信号完成锁定并稳定输出320～ 640 MHz的时钟信号.在250fC能量单粒子轰击下加固后PFD模块不会造成PLL失锁,加固DIV模块的敏感节点数目降低了80％.
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| 关 键 词： | 锁相环(PLL) 鉴频鉴相器(PFD) 分频器(DIV) 单粒子效应(SEE) 设计加固(RHBD) |
Single Event Effect and Radiation-Hard by Design of Sensitive Blocks for PLL |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | phase-locked loop (PLL) phase frequency detector (PFD) divider (DIV) single event effect (SEE) rad-hard by design (RHBD) |
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