| 单粒子翻转效应的实验研究 |
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| 引用本文： | 李国政,梁春湖,程显军,姜景和. 单粒子翻转效应的实验研究[J]. 核电子学与探测技术, 1988, 0(5) |
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| 作者姓名： | 李国政 梁春湖 程显军 姜景和 |
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| 作者单位： | 西北核技术研究所(李国政，梁春湖，程显军)，西北核技术研究所(姜景和) |
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| 摘 要： | 本文介绍了14MeV中子辐照动态随机存取存贮器进行单粒子翻转效应研究的实验装置和方法,并给出了各4种型号16KB,64KB芯片的辐照实验结果。结果表明,由于集成度和工艺结构的不同,单粒子翻转灵敏度有很大的不周,并且γ射线预辐照芯片可使它的单粒子翻转灵敏度降低到1/2到1/3(对TMS4116芯片)。本文对实验结果做了分析和讨论。
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| 关 键 词： | 核辐射效应 单粒子翻转效应 动态随机存取存贮器 集成度 γ射线预辐照 |
The Experimental Study of Single Event Upset in DRAMs Irradiated by 14 MeV Neutrons |
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| Li Guozheng Liang chunhu Cheng Xianjun Jiang Jinghe. The Experimental Study of Single Event Upset in DRAMs Irradiated by 14 MeV Neutrons[J]. Nuclear Electronics & Detection Technology, 1988, 0(5) |
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| Authors: | Li Guozheng Liang chunhu Cheng Xianjun Jiang Jinghe |
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| Affiliation: | Northwest Institute of Nuclear Technology |
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