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基于嵌入式系统的设备测试系统设计
引用本文:耿杰恒,王竹林,贾春宁. 基于嵌入式系统的设备测试系统设计[J]. 微计算机信息, 2008, 24(11): 31-32
作者姓名:耿杰恒  王竹林  贾春宁
作者单位:1. 石家 庄军械工程学院四系,050003
2. 上海 南京军代局上海代表室,200233
基金项目:总装备部装备预研项目基金(编号不公开)
摘    要:将嵌入式技术引入测试系统设计,实现系统的小型化是测试系统设计的必然趋势.本文以嵌入式Linux和ARM9系列的S3C2410微处理器芯片为平台,从硬件和软件两个方面,阐述了基于嵌入式技术的设备测试系统的设计和实现过程,并对关键技术做了详细的分析,对实现测试系统的小型化和设备的随行保障有一定的现实意义.

关 键 词:嵌入式系统  测试系统  S3C2410
文章编号:1008-0570(2008)04-2-0031-02
修稿时间:2008-02-15

Design of Equipment Testing System Based on Embedded System
GENG Jie-heng,WANG Zhu-lin,JIA Chun-ning. Design of Equipment Testing System Based on Embedded System[J]. Control & Automation, 2008, 24(11): 31-32
Authors:GENG Jie-heng  WANG Zhu-lin  JIA Chun-ning
Abstract:
Keywords:
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