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非对称绝缘层无机EL显示器件的研究
引用本文:肖田,林明通,陈国荣,杨云霞,徐毅,陈晨曦,楼均辉. 非对称绝缘层无机EL显示器件的研究[J]. 光电子技术, 2006, 26(2): 88-90
作者姓名:肖田  林明通  陈国荣  杨云霞  徐毅  陈晨曦  楼均辉
作者单位:华东理工大学材料科学与工程学院,上海,200237;上海广电电子股份有限公司,上海,200081;华东理工大学材料科学与工程学院,上海,200237;上海广电电子股份有限公司,上海,200081
摘    要:非对称绝缘层无机EL显示器件是一种新颖的器件结构。成功制备了一批ZnS:Mn器件,其下介质层为厚100-200nm的SrTiO3(ST)或Ba0.5Sr0.5TiO3(BST)或Ta2O5薄膜,上介质层为厚600~1100nm的Ta2O5或ST/Ta2O5或HfO2/Ta2O5/Al2O3薄膜。发现以ST/Ta2O5为上介质层的器件具有适当的阈值电压、较高的L50和较陡的L—V曲线,以HfO2/Ta2O5/Al2O3为上介质层的器件具有较高的可靠性。

关 键 词:薄膜电致发光器件  不对称绝缘层  阈值电压  L-V曲线
文章编号:1005-488X(2006)02-0088-03
收稿时间:2005-10-14
修稿时间:2005-10-14

Study on the Inorganic EL Devices with Asymmetric Insulating Layers
XIAO Tian,LIN Ming-tong,CHEN Guo-rong,YANG Yun-xia,Xu Yi,CHEN Chen-xi,LOU Jun-hui. Study on the Inorganic EL Devices with Asymmetric Insulating Layers[J]. Optoelectronic Technology, 2006, 26(2): 88-90
Authors:XIAO Tian  LIN Ming-tong  CHEN Guo-rong  YANG Yun-xia  Xu Yi  CHEN Chen-xi  LOU Jun-hui
Affiliation:1. School of Materials Science and Engineering, East China University of Science and Technology, Shanghai, 200237, CHN; 2. SVA Electron Co. Ltd. , Shanghai, 200081, CHN
Abstract:
Keywords:TFEL device   asymmetric insulating layer   threshold voltage   L-V curves
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