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不同制造工艺铜箔电爆驱动飞片能力
引用本文:郭菲,付秋菠,王窈,王猛,黄辉,沈瑞琪. 不同制造工艺铜箔电爆驱动飞片能力[J]. 含能材料, 2015, 23(8): 787-790
作者姓名:郭菲  付秋菠  王窈  王猛  黄辉  沈瑞琪
作者单位:南京理工大学化工学院, 江苏 南京 210094 ;中国工程物理研究院, 四川 绵阳 621999,中国工程物理研究院, 四川 绵阳 621999,中国工程物理研究院, 四川 绵阳 621999,中国工程物理研究院, 四川 绵阳 621999,中国工程物理研究院, 四川 绵阳 621999,南京理工大学化工学院, 江苏 南京 210094
摘    要:为研究真空沉积制备的爆炸桥箔(铜箔)致密性和晶体尺寸对爆炸箔驱动飞片能力的影响,采用X射线衍射(XRD)对电子束蒸发和磁控溅射两种工艺制备铜箔的晶型结构进行了表征。用光刻成型的方式将铜箔制成爆炸桥箔,采用光子多普勒测速系统(PDV)测试了爆炸桥箔在不同电压条件下驱动飞片的速度,采用升降法实验对比分析了两种爆炸桥箔驱动飞片起爆六硝基茋-Ⅳ的阈值能量。结果表明,磁控溅射工艺制备的铜箔晶体尺寸小于电子束蒸发工艺制备的铜箔晶体尺寸,电阻率高17%,沉积速率是电子束蒸发铜箔的2.4倍。制成的爆炸桥箔驱动飞片能力略强于电子束蒸发工艺制备的爆炸桥箔驱动飞片能力,且起爆六硝基茋-Ⅳ需要的能量也更低。

关 键 词:电子束蒸发   磁控溅射   铜箔   飞片
收稿时间:2014-05-18
修稿时间:2014-11-24

Effects of Fabrication Process on Drive Capability of Flyer with Copper Bridge Foil
GUO Fei,FU Qiu-bo,WANG Yao,WANG Meng,HUANG Hui and SHEN Rui-qi. Effects of Fabrication Process on Drive Capability of Flyer with Copper Bridge Foil[J]. Chinese Journal of Energetic Materials, 2015, 23(8): 787-790
Authors:GUO Fei  FU Qiu-bo  WANG Yao  WANG Meng  HUANG Hui  SHEN Rui-qi
Affiliation:School of Chemical Engineering, Nanjing University of Science and Technology, Nanjing 210094, China ;China Academy of Engineering Physics, Mianyang 621999, China,China Academy of Engineering Physics, Mianyang 621999, China,China Academy of Engineering Physics, Mianyang 621999, China,China Academy of Engineering Physics, Mianyang 621999, China,China Academy of Engineering Physics, Mianyang 621999, China and School of Chemical Engineering, Nanjing University of Science and Technology, Nanjing 210094, China
Abstract:
Keywords:e-beam evaporated deposition   magnetron sputtering   copper film   flyer
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