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CSD法制备PZT/Bi2Ti2O7薄膜的研究
引用本文:王少伟,王弘,许效红,尚淑霞,王民.CSD法制备PZT/Bi2Ti2O7薄膜的研究[J].压电与声光,2000,22(5):319-321.
作者姓名:王少伟  王弘  许效红  尚淑霞  王民
作者单位:1. 山东大学,晶体材料研究所国家重点实验室,济南,250100
2. 山东大学,化学与环境科学院,济南,250100
基金项目:国家“八六三”基金资助项目!(715 -0 0 2 -0 110 )
摘    要:用化学溶液分解(CSD)法制备Pb(Zr0.5Ti0.5)O3(PZT)和Bi2Ti2O7薄膜,利用X-射线衍射技术研究了以Bi2Ti2O7为籽晶层的PZT薄膜的结晶性。实验结果表明,以高(111)取向的Bi2Ti2O7为籽晶层可获得高结晶性的PZT薄膜,在750℃退火10min的PZT/Bi2Ti2O7薄膜具有单一的钙钛矿相。

关 键 词:PZT薄膜  X-射线粉末衍射  CSD法  钛酸铋

The PZT/Bi2Ti2O7 Thin Films by Chemical Solution Decomposition Technique
WANG Shao-wei,WANG Hong,XU Xiao-hong,SHANG Shu-xia,WANG Min.The PZT/Bi2Ti2O7 Thin Films by Chemical Solution Decomposition Technique[J].Piezoelectrics & Acoustooptics,2000,22(5):319-321.
Authors:WANG Shao-wei  WANG Hong  XU Xiao-hong  SHANG Shu-xia  WANG Min
Abstract:
Keywords:CSD  PZT/Bi_2Ti_2O_7  thin  films  XRD
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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