|
|||||
|
|
| 用分析电镜观察铁磁性样品应注意的问题 | |
| 引用本文： | 冯毅,刘武,钱源.用分析电镜观察铁磁性样品应注意的问题[J].物理测试,1987(4). |
| 作者姓名： | 冯毅 刘武 钱源 |
| 作者单位： | 中南工业大学测试中心，中南工业大学测试中心，中南工业大学测试中心 |
| 摘 要： | 目前国内相继从日本、荷兰等国引进了一批高档多功能分析电镜,如H-700(H)、H-800、EM400、JEM-200CX等。可以在同一样品区域內进行原位的TEM、STEM、SE、EDAX、EELS等观察和分析。使微区分析工作变得非常方便,其对应性也大大提高。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |