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X荧光光谱在溅射工艺研究中的应用
引用本文:董彦辉,李光平,郑庆瑜. X荧光光谱在溅射工艺研究中的应用[J]. 现代仪器, 2009, 15(4): 13-14
作者姓名:董彦辉  李光平  郑庆瑜
作者单位:中国电子科技集团公司第四十六研究所,天津,300192
摘    要:本文结合X荧光光谱讨论半导体材料镍欧姆接触电极的溅射工艺,形成的工艺流程短、效率高,方便获得更好的欧姆接触。

关 键 词:X荧光光谱  镍电极  溅射工艺

Application of X-ray fluorescence spectra in the sputtering process research
Dong Yanhui,Li Guangping,Zheng Qingyu. Application of X-ray fluorescence spectra in the sputtering process research[J]. Modern Instruments, 2009, 15(4): 13-14
Authors:Dong Yanhui  Li Guangping  Zheng Qingyu
Abstract:This article discusses the semiconductor ohmic contact material nickel electrode sputtering process by the use of X fluorescence spectrometry, the process to form a short, high efficiency, easy access to a better ohmic contact.
Keywords:X-ray  fluorescence  spectrometry  Nickel  Sputtering  process
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