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工艺参数变化下的基于统计时序分析的时钟偏差安排
引用本文:方君,陆伟成,赵文庆. 工艺参数变化下的基于统计时序分析的时钟偏差安排[J]. 计算机辅助设计与图形学学报, 2007, 19(9): 1172-1177
作者姓名:方君  陆伟成  赵文庆
作者单位:复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室,上海,201203;复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室,上海,201203;复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室,上海,201203
基金项目:国家自然科学基金 , 国家重点基础研究发展计划(973计划) , 教育部跨世纪优秀人才培养计划 , 上海市自然科学基金 , 上海市应用材料研究与发展项目 , 高等学校博士学科点专项科研项目
摘    要:针对工艺参数变化的情况,提出一种成品率驱动的时钟偏差安排算法.提出统计时序约束图的概念,利用统计时序分析的结果将时序电路转换为统计时序约束图;将寻找关键环问题转换为最小费用/时间比值环问题,并按比例分配关键环中的时钟偏差的安全余量.实验结果表明,该算法有助于提高集成电路的成品率.

关 键 词:时钟偏差  统计时序分析  统计时序约束图  成品率
收稿时间:2006-11-29
修稿时间:2006-11-292007-03-22

Statistical Timing Analysis Based Clock Skew Scheduling in Presence of Process Variations
Fang Jun,Luk Wai-shing,Zhao Wenqing. Statistical Timing Analysis Based Clock Skew Scheduling in Presence of Process Variations[J]. Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics, 2007, 19(9): 1172-1177
Authors:Fang Jun  Luk Wai-shing  Zhao Wenqing
Abstract:A yield driven clock skew scheduling algorithm is proposed in presence of process variations. Firstly,we present the concept of statistical timing constraint graph and transform a sequential circuit into a statistical timing constraint graph by using the result of statistical timing analysis. Then, the slacks are assigned proportionally in the critical cycles, which are detected iteratively using the algorithm for minimum cost-to-time ratio cycle problem. Experimental results show that the algorithm can help with is improving the yield of integrated circuits.
Keywords:clock skew   statistical timing analysis   statistical timing constraint graph   yield
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