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基于虚拟仪器的集成电路自动测试系统设计
引用本文:马宪民,任锋. 基于虚拟仪器的集成电路自动测试系统设计[J]. 仪器仪表学报, 2006, 27(Z3): 1782-1784
作者姓名:马宪民  任锋
作者单位:西安科技大学电气与控制工程学院,西安,710054
基金项目:陕西省教育厅产业化项目(05JC19)
摘    要:设计了一种集成电路的电特性参数自动测试系统,可测试24种专用集成电路.本系统充分利用GPIB总线技术,实现了测试仪器的远程控制.软件开发平台采用LabWindows/CVI,可自动完成数据的采集、传递与处理.研究表明系统具有快速的记录储存和计算分析产品质量信息的特点.

关 键 词:专用集成电路测试  虚拟仪器  GPIB总线  LabWindows/CVI

Design of the auto-test system for asic based on Vi technology
Ma Xianmin,Ren Feng. Design of the auto-test system for asic based on Vi technology[J]. Chinese Journal of Scientific Instrument, 2006, 27(Z3): 1782-1784
Authors:Ma Xianmin  Ren Feng
Abstract:
Keywords:
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