| 双游程编码的无关位填充算法 |
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| 引用本文： | 方昊,姚博,宋晓笛,程旭. 双游程编码的无关位填充算法[J]. 电子学报, 2009, 37(1): 1-6 |
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| 作者姓名： | 方昊 姚博 宋晓笛 程旭 |
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| 作者单位： | 北京大学理科1号楼1815室,北京,100871;北京大学理科1号楼1815室,北京,100871;北京大学理科1号楼1815室,北京,100871;北京大学理科1号楼1815室,北京,100871 |
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| 基金项目： | 国家高技术研究发展计划(863计划) |
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| 摘 要： | 双游程编码是集成电路测试数据压缩的一种重要方法,可分为无关位填充和游程编码压缩两个步骤.现有文献大都着重在第二步,提出了各种不同的编码压缩算法,但是对于第一步的无关位填充算法都不够重视,损失了一定的潜在压缩率.本文首先分析了无关位填充对于测试数据压缩率的重要性,并提出了一种新颖的双游程编码的无关位填充算法,可以适用于不同的编码方法,从而得到更高的测试数据压缩率.该算法可以与多种双游程编码算法结合使用,对解码器的硬件结构和芯片实现流程没有任何的影响.在ISCAS89的基准电路的实验表明,对于主流的双游程编码算法,结合该无关位填充算法后能提高了6%-9%的测试数据压缩率.
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| 关 键 词： | 集成电路测试 测试数据压缩 游程编码 无关位填充 |
| 收稿时间： | 2008-03-05 |
The Algorithm of Filling X Bits in Dual-Run-Length Coding |
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| FANG Hao,YAO Bo,SONG Xiao-di,CHENG Xu. The Algorithm of Filling X Bits in Dual-Run-Length Coding[J]. Acta Electronica Sinica, 2009, 37(1): 1-6 |
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| Authors: | FANG Hao YAO Bo SONG Xiao-di CHENG Xu |
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| Affiliation: | Room 1815,Science Building 1,Peking University,Beijing 100871,China |
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| Abstract: | The dual-run-length codes are the important technique for test data compression.Test compression has two steps:first,the don't-care bits in the test data are filled with 0 or 1s and the test data are divided into run sequences;second,every run in the sequences is converted to the compression code according to the given encoding algorithm.However,all the former existing papers focus on the second step,ignoring the importance of the first step thus to lose a certain potential compression ratio.In this paper,w... |
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| Keywords: | IC test test data compression run-length codes fill don't-care bits |
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