当前微处理器的测试评述

在过去29年中,每年,工业界和研究院的专业人员都聚集在国际测试会议上,将测试水平向前推动。ITC’97是迄今最大的一次会议。微处理器测试分会提交的论文比过去提交的范围更广、更详细。 在某些方面,微处理器测试是当前工业测试问题的一个反映或一个超集。微处理器在许多方面向我们提出挑战。