| 全片层TiAl合金临界屈服应力及影响因素的细观研究 |
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| 引用本文： | 苏继龙,胡更开. 全片层TiAl合金临界屈服应力及影响因素的细观研究[J]. 材料科学与工程学报, 2003, 21(4): 535-538 |
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| 作者姓名： | 苏继龙 胡更开 |
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| 作者单位： | 北京理工大学应用力学系,北京,100081 |
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| 摘 要： | 基于PST晶体的微结构和γ相及α2相普通位错和孪晶滑移启动，结合细观力学方法，通过数值模拟两相中的各滑移系上的分切应力，得出PST晶体屈服应力和外加载荷与片层之间夹角θ的关系；详细讨论了γ相中孪晶与普通位错的临界切应力之差异对PST晶体屈服应力的影响。对单轴和双轴加载的情况分别进行了计算，得到的结论与已有的一些实验结果相吻合。
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| 关 键 词： | TiAl合金 临界屈服应力 影响因素 γ相 α2相 PST晶体 普通位错 |
| 文章编号： | 1004-793X(2003)04-0535-04 |
| 修稿时间： | 2002-12-16 |
Researches of Yield Stress and Influential Parameters for PST Crystals of TiAl Based on Micromechanics |
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| SU Ji long,HU Geng kai. Researches of Yield Stress and Influential Parameters for PST Crystals of TiAl Based on Micromechanics[J]. Journal of Materials Science and Engineering, 2003, 21(4): 535-538 |
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| Authors: | SU Ji long HU Geng kai |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | PST crystals yield stress micromechanics |
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