| 微波功率器件动态寿命试验方法和技术研究 |
| |
| 引用本文： | 来萍,荣炳麟,冯敬东,范国华,金毓铨,钟志新,张晓明. 微波功率器件动态寿命试验方法和技术研究[J]. 固体电子学研究与进展, 2001, 21(1): 82-86 |
| |
| 作者姓名： | 来萍 荣炳麟 冯敬东 范国华 金毓铨 钟志新 张晓明 |
| |
| 作者单位： | 1. 中国电子产品可靠性与环境试验研究所，广州，510610
2. 南京电子器件研究所，210016 |
| |
| 摘 要： | 介绍了对微波功率器件开展的动态加速寿命试验方法和技术的研究。主要阐述了实现振荡式微波动态寿命试验的方法 ,以及不同于常规的对受试功率器件进行内部式加热控温的技术研究。
|
| 关 键 词： | 微波功率器件 动态 寿命试验 |
| 文章编号： | 1000-3819(2001)01-0082-05 |
| 修稿时间： | 1999-05-10 |
Study on Dynamic Lifetime Testing Technology of Power Microwave Devices |
| |
| LAI Ping. Study on Dynamic Lifetime Testing Technology of Power Microwave Devices[J]. Research & Progress of Solid State Electronics, 2001, 21(1): 82-86 |
| |
| Authors: | LAI Ping |
| |
| Abstract: | This paper introduces the study on dynamic lifetime testing technology of power microwave devices. It details the dynamic testing method under microwave oscillation, and the inside heating up technique for tested devices which is different from ordinarily methods. |
| |
| Keywords: | microwave power devices dynamic lifetime testing |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
