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| 薄膜铂热电阻特性分析 | |
| 引用本文： | 马毅,张宏宇. 薄膜铂热电阻特性分析[J]. 计量与测试技术, 2012, 39(8): 7-8 |
| 作者姓名： | 马毅 张宏宇 |
| 作者单位： | 92493部队89分队,辽宁葫芦岛,125000 |
| 摘 要： | 薄膜铂电阻在温度测量领域应用广泛,使用数量巨大。在很多行业中,已取代了传统的线绕式铂电阻,但由于其原理未被充分掌握,以及特性未被深刻认识,在使用过程中,实际性能指标常常不理想,其高精度和高稳定性未得到充分发挥。为此对薄膜铂电阻工作原理、结构和加工工艺进行了介绍、针对不同于传统铂电阻的电阻温度变化规律、热响应时间和自热效应的特性进行分析,对在开展高精度温度测量应用时需注意的问题予以说明。 |
| 关 键 词： | 薄膜铂热电阻 热响应时间 自热效应 |
Characteristics Analysis of Platinum Thin-Film Resistance Thermometers |
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